特許

J-GLOBAL ID：200903055117236263

ピーク放射温度計

発明者： 杉山 芳朗 ,  林 幸雄
出願人/特許権者： 東海カーボン株式会社
代理人 (1件)： 福田 保夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-056716
公開番号（公開出願番号）：特開2000-258251
出願日： 1999年03月04日
公開日（公表日）： 2000年09月22日
要約：

【要約】【課題】 任意の2点間で位置、大きさ、形状等が変化する被測定物体の温度及び寸法を的確に測定することのできるピーク放射温度計を提供する。【解決手段】 二次元の温度分布または放射輝度分布を測定するための赤外線撮影機構と、赤外線撮影機構から出力される輝度信号及び同期信号を分離して輝度信号をアナログ/デジタル変換する変換機構と、任意の2点間上のアナログ/デジタル変換された輝度信号及びアドレス情報を取り込み被測定物の低温側しきい値以上の連続した画素数を演算する回路機構と、被測定物の最小幅に相当する最小幅しきい値以上の信号を判別する回路機構と、被測定物の最低温度に相当する低輝度側しきい値以上の信号を判別する回路機構と、判別した信号から最高温度、最低温度、平均温度、最大幅、最小幅を求める変換機構とからなるピーク放射温度計。

請求項（抜粋）：

二次元の温度分布または放射輝度分布を測定するための赤外線撮影機構と、赤外線撮影機構から出力される輝度信号及び同期信号を分離して輝度信号をアナログ/デジタル変換する変換機構と、任意の2点間上のアナログ/デジタル変換された輝度信号及びアドレス情報を取り込み被測定物の低温側しきい値以上の連続した画素数を演算する回路機構と、被測定物の最小幅に相当する最小幅しきい値以上の信号を判別する回路機構と、被測定物の最低温度に相当する低輝度側しきい値以上の信号を判別する回路機構と、判別した信号から最高温度、最低温度、平均温度、最大幅、最小幅を求める変換機構とからなることを特徴とするピーク放射温度計。

Fターム (6件)：

2G066BA14 ,  2G066BC07 ,  2G066BC09 ,  2G066BC15 ,  2G066CA02 ,  2G066CB01