特許

J-GLOBAL ID：200903055140096363

変位測定装置

発明者： 木村 和昭 ,  笹川 潤 ,  小川 洋平 ,  片山 康隆 ,  佐々木 修一
出願人/特許権者： 株式会社トプコン
代理人 (1件)： 田辺 徹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-067650
公開番号（公開出願番号）：特開2000-266503
出願日： 1999年03月15日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：

【要約】【課題】 小型で、他の部分との干渉を避けることができ、測定精度が低下しにくい変位測定装置を提供する。【解決手段】 装置本体に対して移動可能に滑車が配置され、その滑車が付勢力を受けるように付勢手段が配置されている。滑車にワイヤが掛けられる。ワイヤが引張り力を受けることにより、滑車が付勢手段の付勢力に抗して移動する。

請求項（抜粋）：

ワイヤを利用して変位を測定する装置において、移動可能に滑車(30、32、34、36)が配置され、滑車(30、32、34、36)が付勢力を受けながら移動するように付勢手段(50)が配置され、滑車(30、32、34、36)にワイヤ(12)が掛けられ、ワイヤ(12)を導入または導出したとき、滑車(30、32、34、36)が付勢手段(50)の付勢力に抗して移動することを特徴とする変位測定装置。

IPC (2件)：

G01B 5/02 ,  E02F 3/43

FI (2件)：

G01B 5/02 A ,  E02F 3/43 B

Fターム (22件)：

2D003AA01 ,  2D003AB03 ,  2D003AB04 ,  2D003BB10 ,  2D003CA02 ,  2D003DB02 ,  2D003DB04 ,  2D003DB05 ,  2F062AA02 ,  2F062AA81 ,  2F062BC31 ,  2F062CC10 ,  2F062CC26 ,  2F062EE22 ,  2F062EE62 ,  2F062GG21 ,  2F062GG37 ,  2F062GG38 ,  2F062GG42 ,  2F062GG51 ,  2F062GG57 ,  2F062GG60