特許
J-GLOBAL ID：200903055141261120
半導体集積回路
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-120308
公開番号（公開出願番号）：特開平5-312920
出願日： 1992年05月13日
公開日（公表日）： 1993年11月26日
要約：
【要約】【目的】 本発明の目的は、より少ない診断用コンタクトパターンによって的確な実装診断を可能とする技術を提供することにある。【構成】 外部入力ピンD1,D2に対応して配置された複数のフリップフロップ20が互いに直列接続され、実装試験のために当該外部入力ピンを介して入力されたデータを順次シフトすることによってシリアル形式で外部出力可能とするシフトレジスタを含んで入力回路11を構成することにより、ボード上で当該半導体集積回路の前段に配置された半導体集積回路から出力された実装試験用データを収集するための診断用コンタクトパターンを省略可能とする。
請求項（抜粋）：
内部論理回路と、外部からの入力データを取込むための複数の外部入力ピンと、この複数の外部入力ピンと内部論理回路との間に介在された入力回路とを含む半導体集積回路において、上記入力回路は、上記外部入力ピンに対応して配置された複数のフリップフロップが互いに直列接続され、実装試験のために当該外部入力ピンを介して入力されたデータを順次シフトすることによってシリアル形式で外部出力可能とするシフトレジスタを含んで成ることを特徴とする半導体集積回路。
IPC (2件)：
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