特許
J-GLOBAL ID：200903055169676016
複数条件螢光X線定性分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-299289
公開番号（公開出願番号）：特開平6-123717
出願日： 1992年10月11日
公開日（公表日）： 1994年05月06日
要約：
【要約】【目的】 測定試料中の軽元素と重元素とを確実に測定できるとともに、X線管のターゲット材料と同一材料の元素が測定試料中に含まれているか否かの判断を精度よく行うことができる複数条件蛍光X線定性分析方法を提供することにある。【構成】 X線管1から発せられた一次X線2が測定試料3に照射され、当該測定試料から発せられる蛍光X線4を検出器6で検出し、その信号を信号処理手段7を経てエネルギースペクトルとして読み取ることで当該測定試料3に含まれている元素の定性分析を行うに際して、測定試料中の軽元素および重元素をそれぞれ管電圧の大きさを可変にすることにより測定するようにし、さらに、一次X線フィルター8を用いた場合と用いない場合の複数の条件で測定することにより、X線管1内のターゲット材料Tと同一材料の元素の有無を検出するようにしたとからなる。
請求項（抜粋）：
X線管から発せられた一次X線が測定試料に照射され、当該測定試料から発せられる蛍光X線を検出器で検出し、その信号を信号処理手段を経てエネルギースペクトルとして読み取ることで当該測定試料に含まれている元素の定性分析を行うに際して、測定試料中の軽元素および重元素をそれぞれ管電圧の大きさを可変にすることにより測定するようにしたことからなる複数条件蛍光X線定性分析方法。
引用特許：
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