特許
J-GLOBAL ID:200903055180910926
混入汚染物採取用の過冷却空気を放出するサンプラー
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
浅村 皓 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-099406
公開番号(公開出願番号):特開平8-043278
出願日: 1995年03月20日
公開日(公表日): 1996年02月16日
要約:
【要約】【目的】 汚染された空気試料を連続的に熱交換器の中に取り入れ、該汚染された空気試料を最も低い沸点を有する汚染物の凍結温度より低温まで過冷却することにより、該汚染物質を分析する。【構成】 (a)ガスで汚染された排出空気流中のガスで汚染された排出空気の予め定められている特性を測定し、(b)ガスで汚染された排出空気流からガスで汚染された排出空気を少量抽出し、(c)抽出された排出空気を充分に低温まで冷却し該ガスを凝縮させて汚染物凝縮物とし、そして、(d)汚染物凝縮物を分析する、ことからなる方法により、ガスで汚染された排出空気流を分析する。
請求項(抜粋):
(a)ガスで汚染された排出空気流(a gas contaminated exhaust air stream)中のガスで汚染された排出空気の予め定められている特性を測定し、(b)ガスで汚染された排出空気流からガスで汚染された排出空気を少量抽出し、(c)抽出された排出空気を充分に低温まで冷却し該ガスを凝縮して汚染物凝縮物とし、そして、(d)前記汚染物凝縮物を分析する、ことからなる、ガスで汚染された排出空気流の分析方法。
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