特許

J-GLOBAL ID：200903055220061633

受け渡し式の加工検査装置

発明者： 橋本 一行
出願人/特許権者： ソニー株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-172845
公開番号（公開出願番号）：特開2001-001222
出願日： 1999年06月18日
公開日（公表日）： 2001年01月09日
要約：

【要約】【課題】 検査作業者による目視検査が不要であり、不良品が発生した場合に、発生マガジンの特定が容易な受け渡し式の加工検査装置を提供する。【解決手段】 第1の加工手段(WD・CAP付け機132)で加工済みの製品を受けて載置する回転式テーブル(インデックステーブル10)と、回転式テーブルに載置された加工済み製品に対し所定の検査を自動的に行う自動検査手段(画像処理ユニット15)と、自動検査手段が良品と判断した製品を第2の加工手段(スリーブCAP付け機133)に渡す渡し手段(インデックステーブル10,ワーク投入P&Pロボット133b等)とを備えた。

請求項（抜粋）：

第1の加工手段で加工した製品を検査し、検査合格の製品を次工程の第2の加工手段に渡して次工程の加工をする受け渡し式の加工検査装置において、前記第1の加工手段で加工済みの製品を受けて載置する回転式テーブルと、該回転式テーブルに載置された前記加工済み製品に対し所定の検査を自動的に行う自動検査手段と、該自動検査手段が良品と判断した製品を前記第2の加工手段に渡す渡し手段とを備えたことを特徴とする受け渡し式の加工検査装置。

IPC (8件)：

B23P 21/00 305 ,  B23K 26/00 310 ,  B23Q 7/00 ,  B23Q 7/02 ,  H01J 9/04 ,  H01J 9/06 ,  H01J 9/42 ,  B23K101:36

FI (7件)：

B23P 21/00 305 C ,  B23K 26/00 310 N ,  B23Q 7/00 M ,  B23Q 7/02 B ,  H01J 9/04 J ,  H01J 9/06 ,  H01J 9/42 A

Fターム (20件)：

3C033BB10 ,  3C033FF02 ,  3C033FF03 ,  3C033FF04 ,  3C033HH26 ,  3C033NN01 ,  3C033NN07 ,  3C033PP08 ,  3C033PP19 ,  4E068BA00 ,  4E068CA17 ,  4E068CA18 ,  4E068CB08 ,  4E068CC02 ,  4E068CE11 ,  4E068DA09 ,  5C012AA02 ,  5C012BE03 ,  5C027CC10 ,  5C027DD13