特許
J-GLOBAL ID：200903055239506857

レーザ走査制御装置および方法

発明者：
横山 幸生

横山 幸生 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 渡部 敏彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-266424
公開番号（公開出願番号）：特開2004-098590
出願日： 2002年09月12日
公開日（公表日）： 2004年04月02日
要約：
【課題】像担持体の軸の正規位置からの傾きや光学系のゆがみなどによる走査倍率の不均一さを均一するようにすることができ、高解像度の画像を容易に得ることができるレーザ走査制御装置を提供する。【解決手段】画像形成装置では、1周期内で1画素を構成する高周波クロック数を変化させることなく、白画像データの微小画素を変化させることにより、対応する画素に微小画素を追加する。感光ドラム11上の主走査ライン上の画像有効エリアが5つの領域に分けられている場合、走査開始位置の端部から中央部に至る従い、それぞれ領域における1画素が、高周波クロックの8/9/10個分の周期で構成され、逆に、中央部から他方の端部に至る従い、それぞれ領域における1画素は、高周波クロックの10/9/8個分の周期で構成される。【選択図】 図11
請求項（抜粋）：
レーザ光を発光する光源を画素単位の画像データに応じて駆動し、該光源から発光されたレーザ光により像担持体上を主走査方向に走査するためのレーザ走査制御装置であって、 前記像担持体上の前記レーザ光により走査される主走査ライン上の所定の走査位置に対応する画像データに対して微小画素を挿入または削除することによって、前記主走査ラインの走査倍率を補正する補正手段を備えることを特徴とするレーザ走査制御装置。
IPC (3件)：
B41J2/44 ,  G02B26/10 ,  H04N1/113
FI (3件)：
B41J3/00 M ,  G02B26/10 103 ,  H04N1/04 104A
Fターム (21件)：
2C362BA68 ,  2C362BA70 ,  2C362BB15 ,  2C362BB23 ,  2C362BB28 ,  2C362BB37 ,  2C362BB38 ,  2C362CB34 ,  2C362CB35 ,  2C362CB78 ,  2H045AA01 ,  2H045CA97 ,  5C072AA03 ,  5C072BA16 ,  5C072HA02 ,  5C072HA08 ,  5C072HA13 ,  5C072HB06 ,  5C072RA06 ,  5C072UA13 ,  5C072UA14
引用特許：
審査官引用 (7件)
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