特許

J-GLOBAL ID：200903055262799888

反応検査用チップ、その製造方法、反応検査装置及び反応検査方法

発明者： 中尾 政之 ,  大井 健 ,  岡部 雄介 ,  岩田 恵助
出願人/特許権者： 中尾 政之 ,  株式会社シマ研究所
代理人 (1件)： 渡部 温
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-269085
公開番号（公開出願番号）：特開2003-075441
出願日： 2001年09月05日
公開日（公表日）： 2003年03月12日
要約：

【要約】【課題】 安価で作業性のよい反応検査チップ及びその製造方法等を提供する。【解決手段】 反応検査用チップ1は、金属箔5の表裏面に上プラスチックフィルム3と下プラスチックフィルム7をラミネートして作製される。金属箔5には複数のスリット9が形成されている。金属箔5及び上下プラスチックフィルム3、7で画された流路19を形成し、スリット9を隔てて並べられた金属箔5は電極11を形成している。反応液が流路19に導入され、電極11に電圧が印加されると、反応液は流路19で反応する。

請求項（抜粋）：

反応液の導入される導入路と、該導入路に電圧を印加するための電極と、を備える検査用チップであって、前記電極が、前記導入路の側面を画するようにある間隔を隔てて複数枚並べられた金属箔からなり、前記導入路の底面及び天面を画するように、前記金属箔の表裏面にプラスチックフィルムがラミネートされていることを特徴とする反応検査用チップ。