特許
J-GLOBAL ID:200903055290601775

基板を処理するための装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢野 敏雄 (外4名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-606035
公開番号(公開出願番号):特表2002-539334
出願日: 2000年03月08日
公開日(公表日): 2002年11月19日
要約:
【要約】基板、特に半導体ウェーハを処理するための装置であって、1つの開口を有する少なくとも1つのプロセス容器が設けられていて、該開口が処理の間、基板によって外部から閉鎖可能である形式のものにおいて、第1のプロセス容器に対して隣接して第2のプロセス容器が設けられており、該第2のプロセス容器の壁が、少なくとも部分的に、第1のプロセス容器の、前記開口を有する容器壁であり、前記開口が、第1のプロセス容器の側から閉鎖可能であることによって、処理したい基板表面の簡単でかつ均一な処理と、連続する処理ステップの間での損傷の危険の低減とが達成される。
請求項(抜粋):
基板(31)、特に半導体ウェーハを処理するための装置(1)であって、少なくとも1つの開口(29)を有する第1のプロセス容器(2)が設けられていて、前記開口(29)が基板(31)によって外部から閉鎖可能である形式のものにおいて、第1のプロセス容器(2)に対して隣接して第2のプロセス容器(60)が設けられており、該第2のプロセス容器(60)の壁(9)が、少なくとも部分的に、第1のプロセス容器(2)の、前記開口(29)を有する容器壁(9)であり、前記開口(29)が、第1のプロセス容器(2)の側から閉鎖可能であることを特徴とする、基板を処理するための装置。
IPC (3件):
C25D 17/00 ,  C25D 7/12 ,  C25D 17/08
FI (4件):
C25D 17/00 E ,  C25D 17/00 J ,  C25D 7/12 ,  C25D 17/08 Q
Fターム (10件):
4K024BB12 ,  4K024CB01 ,  4K024CB02 ,  4K024CB06 ,  4K024CB08 ,  4K024CB09 ,  4K024CB13 ,  4K024CB18 ,  4K024CB26 ,  4K024DA04

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