特許
J-GLOBAL ID:200903055343190675
金型検査装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
大川 宏
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-128905
公開番号(公開出願番号):特開平8-001302
出願日: 1994年06月10日
公開日(公表日): 1996年01月09日
要約:
【要約】【目的】金型表面全体の温度分布を直接的に検出するとともに、異物の検出も行うことができるようにする。【構成】金型から放射される赤外線を検出し金型の型面の放射赤外線分布を検出画像として与える赤外線検出装置1と、赤外線検出装置1を位置決めする位置決め装置21と、赤外線検出装置1に連結され予め測定されたマスター画像と検出画像を比較演算する画像処理装置20と、画像処理装置20の比較演算結果に基づいて金型の状態の良否を判定する判定装置22と、からなることを特徴とする。赤外線画像のマスター画像と検出画像の比較演算で検査するため、可視光で検査するのに比べて誤差が小さくメンテナンスが容易で、金型表面の温度分布も直接的に検出することができる。
請求項(抜粋):
金型から放射される赤外線を検出し該金型の型面の放射赤外線分布を検出画像として与える赤外線検出装置と、該赤外線検出装置を該金型の型面から所定距離離れた所定位置に位置決めする位置決め装置と、該赤外線検出装置に連結され予め測定されたマスター画像と該検出画像を比較演算する画像処理装置と、該画像処理装置の該比較演算結果に基づいて該金型の状態の良否を判定する判定装置と、からなることを特徴とする金型検査装置。
IPC (7件):
B22D 17/32
, B22D 17/22
, B22D 46/00
, B29C 33/00
, B29C 45/26
, B29C 45/84
, G01J 5/48
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