特許

J-GLOBAL ID：200903055347484258

X線画像内の物質のセグメンテーション方法および装置

発明者： ミヒァエル グラスルック ,  カール シュティールシュトルファー
出願人/特許権者： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-281222
公開番号（公開出願番号）：特開2007-111526
出願日： 2006年10月16日
公開日（公表日）： 2007年05月10日
要約：

【課題】X線画像内の少なくとも1つの物質の安定なセグメンテーションを簡単に可能にする。【解決手段】X線画像(1)の各画素(2)に関して、異なるX線エネルギーE1,E2に対する2つの減弱値(3,4)が検出され、検出された減弱値(3,4)に基づいて、少なくとも1つの物質が一義的に割当てられた少なくとも1つの第1の分類範囲(6)を有する2次元の特性空間(5)内に、X線画像(1)の画素(2)が描出され、X線画像(1)の画素(2)に割当てられた画像周辺(10)が特性空間(5)内に描出されることから、第1の分類範囲(6)内に描出された画素の個数が評価量として求められ、評価量に基づいて各画素(2)に対して閾値との閾値比較が実行されることによって、セグメント化された画像が算出される。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

X線画像(1)の各画素(2)に関して、異なるX線エネルギーE1,E2に対する2つの減弱値(3,4)が検出され、 検出された減弱値(3,4)に基づいて、少なくとも1つの物質が一義的に割当てられた少なくとも1つの第1の分類範囲(6)を有する2次元の特性空間(5)内に、X線画像(1)の画素(2)が描出され、 X線画像(1)の画素(2)に割当てられた画像周辺(10)が特性空間(5)内に描出されることから、第1の分類範囲(6)内に描出された画素の個数が評価量(11)として求められ、 評価量(11)に基づいて各画素(2)に対して閾値との閾値比較が実行されることによって、セグメント化された画像(14)が算出される ことを特徴とするX線画像内の物質のセグメンテーション方法。

IPC (1件)：

A61B 6/03

FI (2件)：

A61B6/03 360J ,  A61B6/03 373

Fターム (7件)：

4C093AA22 ,  4C093CA15 ,  4C093EA07 ,  4C093FD09 ,  4C093FF16 ,  4C093FF19 ,  4C093FF27

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 米国特許第6754298号明細書