特許
J-GLOBAL ID：200903055368581601
数値解析システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
稲葉 良幸
, 大賀 眞司
, 大貫 敏史
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-093084
公開番号（公開出願番号）：特開2005-285353
出願日： 2004年03月26日
公開日（公表日）： 2005年10月13日
要約：
【課題】 膨大な作業工数を要することなく接触抵抗をモデル化できる数値解析システムを提案する。【解決手段】 本発明の数値解析システム(10)は、解析対象を構成する各構成部材をモデル化したメッシュモデル(51)の間に接触抵抗値が定義された微小メッシュ(52)を介挿して解析対象の解析モデル(60)を生成する解析モデル生成手段(21)と、解析モデル(60)に基づいて解析対象の電気特性を数値解析する数値解析手段(22)を備える。各構成部材をモデル化したメッシュモデル(51)の間に接触抵抗が定義された微小メッシュ(52)を介挿することで、接触界面における接触抵抗の定義を省略することが可能となり、膨大な作業工数を要することなく接触抵抗をモデル化できる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
解析対象の電気特性を数値解析する数値解析システムであって、解析対象を構成する各構成部材をモデル化したメッシュモデルの間に接触抵抗値が定義された微小メッシュを介挿して解析対象の解析モデルを生成する解析モデル生成手段と、前記解析モデルに基づいて解析対象の電気特性を数値解析する数値解析手段を備える、数値解析システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (2件)：
引用特許：
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