特許
J-GLOBAL ID:200903055465127389

周波数応答測定方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小池 晃 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-299359
公開番号(公開出願番号):特開平9-119953
出願日: 1995年10月25日
公開日(公表日): 1997年05月06日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】周波数特性の測定工程を単一の測定工程に圧縮し、システムの周波数特性測定を完了するのに必要な時間を大幅に削減する。【解決手段】周期的な特性M系列に基づく入力信号を用いる。特性M系列は、(元の)M系列を1ポイント又は1デジットおきに標本化したときに、元の系列と同一の新たな系列(標本化系列)が得られる(すなわち、元の系列の第1のデジット又は第1のポイントが標本化系列の第1のデジット又は第1のポイントと同じである等)という特性を有するM系列として定義される。系列発生の過程において、時間領域(例えば、秒)で測定される標本化間隔を変化させることにより、異なる帯域幅を有する種々のシステムの周波数特性を測定できるように、同じ特性M系列を容易に変更することができる。
請求項(抜粋):
被測定システムの周波数特性を測定する周波数特性測定方法において、元のM系列を発生するステップと、上記元のM系列をメモリに記憶するステップと、二次的なM系列を発生するステップと、上記二次的なM系列を1ポイントおきに標本化して、標本化M系列を発生するステップと、上記標本化M系列をメモリに記憶されている上記元のM系列と比較するステップと、上記標本化M系列が上記元のM系列と同一である場合、上記標本化M系列をコプライム標本化して、共役複素周波数スペクトルを有する1対のM系列を生成するステップと、上記被測定システムに上記1対のM系列を逐次入力するステップと、上記被測定システムから上記入力された1対のM系列に対応する出力を逐次取り出すステップと、上記被測定システムの応答を表す振幅及び位相データを得るように上記出力を処理するステップとを有し、上記処理は、高速フーリエ変換からなる。
IPC (3件):
G01R 27/28 ,  H04B 17/00 ,  H04J 11/00
FI (3件):
G01R 27/28 Z ,  H04B 17/00 Z ,  H04J 11/00 Z

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