特許
J-GLOBAL ID：200903055481917080
プロセスの特性予測方法ならびにその予測方法を用いたプロセスの監視方法およびプロセスの制御方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 長七 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-013446
公開番号（公開出願番号）：特開平5-204407
出願日： 1992年01月28日
公開日（公表日）： 1993年08月13日
要約：
【要約】【目的】短時間で精度よくプロセスの出力値の変動パターンを予測する。【構成】プロセス1の状態を表す変量として状態量x1 〜xp および出力量yを所定時間間隔でサンプリングする。各サンプリング時点から過去の所定期間前までのサンプリング値を用いて重回帰分析部2で重回帰分析を行うことにより、偏回帰係数を求める。偏回帰係数のパターンをニューラルネットワーク3で分類することにより、プロセス1の出力値yの変動パターンを予測する。
請求項（抜粋）：
プロセスの状態を表す複数の変量を測定し、測定時点から所定時間前までの過去の所定期間の各変量に基づく重回帰分析を行い、少なくとも偏回帰係数に基づいてプロセスの特性の変動パターンを予測するパターン分類器としての学習情報が与えられているニューラルネットワークに、重回帰分析により求めた値を入力することによって、測定時点以後のプロセスの特性の変動パターンを予測することを特徴とするプロセスの特性予測方法。
IPC (2件)：
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