特許
J-GLOBAL ID:200903055491370054

回路動作判定装置、回路設計装置およびその方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐藤 隆久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-078373
公開番号(公開出願番号):特開平10-275166
出願日: 1997年03月28日
公開日(公表日): 1998年10月13日
要約:
【要約】【課題】LSI内部の回路セルが正常動作することを、配線抵抗をも考慮して正確に判定する。【解決手段】S100において、LSIを構成する回路セルの特性に基づいて、回路シュミレーションが行われ、駆動能力が異なる回路セルごとに、スルー時間と遷移時間との差を示す特性値Eが算出される。S102において、ゲートアレイの回路パターンのレイアウトが行われ、生成された回路パターンおよびゲートアレイの回路から、回路セルそれぞれの負荷容量、および、回路セルが駆動する配線抵抗の値が算出され、さらに、これらの値に基づいて、回路セルそれぞれの遷移時間が算出される。S104において、特性値Eと遷移時間との乗算値(スルー時間)と、ゲートアレイの仕様から得られる回路セルの入力信号の1周期分のパルス幅とが比較され、スルー時間が入力信号の1周期分のパルス幅以下である場合には正常に動作すると判定され、1周期分のパルス幅以下でない場合には正常に動作しないと判定される。
請求項(抜粋):
入力波形の傾きおよび出力負荷に対する遷移時間とスルー時間との比を示す特性値を、駆動能力が異なる回路セルごとに算出する特性値算出手段と、前記回路内の回路セルそれぞれが駆動する配線の抵抗値、前記回路内の回路セルそれぞれの負荷容量、および、算出した前記回路セルそれぞれの特性値に基づいて、前記回路内の回路セルそれぞれのスルー時間を算出するスルー時間算出手段と、算出した前記回路内の回路セルそれぞれのスルー時間、および、前記回路内の回路セルそれぞれに入力されるパルスのパルス幅に基づいて、前記回路内の回路セルが正常に動作するか否かを判定する動作判定手段とを有する回路動作判定装置。
IPC (2件):
G06F 17/50 ,  H01L 21/82
FI (4件):
G06F 15/60 668 A ,  G06F 15/60 658 R ,  G06F 15/60 666 A ,  H01L 21/82 C

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