特許
J-GLOBAL ID:200903055524094864

光学測定方法、光学測定装置、光学測定システム及び画像形成装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中島 淳 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-044679
公開番号(公開出願番号):特開2000-241243
出願日: 1999年02月23日
公開日(公表日): 2000年09月08日
要約:
【要約】【課題】 オンラインで画像制御に必要な、高精度の測定を可能とする。【解決手段】 光電変換素子18とレンズ14との間に遮光板22を設ける。遮光板22の先端位置g1は、レンズ14の有効口径の端点と光電変換素子18の左側の端点を結ぶ直線と、レンズ14の有効口径の端点と光電変換素子18の右側の端点を結ぶ直線との間に位置するよう設ける。この先端位置g1は、g≧{(fb-h)(e+arfa)+hr}/fbの関係にすれば、装置の筐体内部等からの反射光(迷光)の光電変換素子18への入射防止できると共に、用紙Pからの有効な反射光のみを検出することができる。
請求項(抜粋):
対象物へ光を照射し、前記対象物からの反射光を集光レンズにより集光し、前記集光レンズの焦点位置近傍に設けられた受光素子で光量を検出して前記対象物に関する特性を測定する光学測定方法であって、前記対象物の反射光が前記集光レンズを透過した透過光束により形成される空間の一部でかつ前記集光レンズの光軸と交差すると共に、焦点位置を含む面近傍に特定領域を定め、前記対象物からの反射光が前記集光レンズを透過して前記特定領域に至る光束の外周を少なくとも含むように、遮光し、前記特定領域を通過した光のみを前記受光素子で受光することを特徴とする光学測定方法。
IPC (4件):
G01J 1/06 ,  G01J 3/46 ,  G01N 21/27 ,  H04N 1/19
FI (4件):
G01J 1/06 A ,  G01J 3/46 Z ,  G01N 21/27 A ,  H04N 1/04 103 E
Fターム (45件):
2G020AA08 ,  2G020DA02 ,  2G020DA03 ,  2G020DA04 ,  2G020DA12 ,  2G020DA13 ,  2G020DA22 ,  2G020DA24 ,  2G020DA34 ,  2G020DA43 ,  2G020DA65 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059EE13 ,  2G059GG02 ,  2G059GG07 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ02 ,  2G059KK01 ,  2G059LL04 ,  2G059MM11 ,  2G059MM14 ,  2G059MM17 ,  2G065AA04 ,  2G065AB04 ,  2G065AB16 ,  2G065AB22 ,  2G065AB28 ,  2G065BA09 ,  2G065BB46 ,  2G065BC08 ,  2G065BC40 ,  2G065CA01 ,  2G065DA17 ,  5C072AA01 ,  5C072BA04 ,  5C072CA14 ,  5C072DA02 ,  5C072DA09 ,  5C072DA15 ,  5C072DA21 ,  5C072DA23 ,  5C072EA05 ,  5C072RA12 ,  5C072XA10

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