特許
J-GLOBAL ID：200903055562921669

光モジュール性能監視システム

発明者：
嶋貫 克信

嶋貫 克信 について


出願人/特許権者：
日本電気エンジニアリング株式会社

日本電気エンジニアリング株式会社 について


代理人 (1件)： 中井 潤
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-390051
公開番号（公開出願番号）：特開2005-151479
出願日： 2003年11月20日
公開日（公表日）： 2005年06月09日
要約：
【課題】 ハードウェアに大きな変更を加えずに、高速でLOS検出を行う光モジュール性能監視システムを提供する。【解決手段】 受信光モジュール102からの出力信号OPRを増幅する第1のアンプ部105と、送信光モジュール101からの出力信号LBC、OPTを増幅する第2のアンプ部103、104と、第1及び第2のアンプ部から出力される信号を多重信号に変換するセレクタ106と、セレクタから出力される信号をデジタルデータに変換するA/D変換器107と、A/D変換器からの出力信号を分離する変換器108と、光入力パワーの低下の許容値を記憶する記憶部112と、変換器から出力される信号のうち、受信光モジュールからの出力に対応する信号と、記憶部に記憶される許容値とを比較し、受信光モジュールからの出力に対応する信号が許容値より小さくなると警報を発する検知部113とを備えるシステム。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
受信光モジュールから出力される信号を増幅するアンプ部と、 該アンプ部から出力される信号をデジタルデータに変換するA/D変換器と、 光入力パワーの低下の許容値を記憶する記憶部と、 前記A/D変換器からの出力と、前記記憶部に記憶される許容値とを比較し、前記A/D変換器からの出力が前記許容値より小さくなった場合に警報を発する検知部とを備えることを特徴とする光モジュール性能監視システム。
IPC (1件)：
H04B10/08
FI (1件)：
H04B9/00 K
Fターム (14件)：
5K102AA12 ,  5K102AA15 ,  5K102AA42 ,  5K102AA45 ,  5K102LA04 ,  5K102LA05 ,  5K102LA14 ,  5K102LA26 ,  5K102LA38 ,  5K102LA52 ,  5K102RD05 ,  5K102RD25 ,  5K102RD26 ,  5K102RD28
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (3件)
  • 通信用LSI
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-261626   出願人：株式会社東芝
  • 光信号受信装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-116115   出願人：株式会社日立国際電気
  • 光モジュール性能監視システム
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-258973   出願人：株式会社日立製作所, 日立通信システム株式会社

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