特許
J-GLOBAL ID:200903055650779937
半導体基板及び半導体装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
前田 弘 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-106704
公開番号(公開出願番号):特開2003-303971
出願日: 2002年04月09日
公開日(公表日): 2003年10月24日
要約:
【要約】【課題】 IV族半導体層を備える、電気的特性の優れた半導体装置を提供する。【解決手段】 半導体装置は、共通の基板構造を有するDTMOSから構成されたCMOSであって、その基板部分は、下から順にSi基板41と、シード層44と、単結晶酸化膜45と、第1のSiGe層54と、第2のSiGe層55と、歪みSi層56とを有している。Pチャネル型MOSFETにおいては第2のSiGe層55がチャネルとして機能し、Nチャネル型MOSFETにおいては歪みSi層56がチャネルとして機能するので、高速動作が可能となる。
請求項(抜粋):
半導体からなる原基板と、上記原基板の上方に設けられ、絶縁体材料または誘電体材料から構成された結晶層と、上記結晶層の上にエピタキシャル成長された第1のIV族半導体層とを備えている半導体基板。
IPC (6件):
H01L 29/786
, H01L 21/20
, H01L 21/8238
, H01L 27/08 331
, H01L 27/092
, H01L 27/12
FI (6件):
H01L 21/20
, H01L 27/08 331 E
, H01L 27/12 E
, H01L 29/78 618 B
, H01L 29/78 626 C
, H01L 27/08 321 B
Fターム (45件):
5F048AA08
, 5F048AB03
, 5F048AC01
, 5F048AC03
, 5F048BA01
, 5F048BA09
, 5F048BB05
, 5F048BB08
, 5F048BC11
, 5F048BD09
, 5F048BE08
, 5F052DA01
, 5F052DA03
, 5F052JA01
, 5F052KA01
, 5F052KA05
, 5F110AA01
, 5F110BB04
, 5F110BB11
, 5F110BB20
, 5F110CC02
, 5F110DD01
, 5F110DD05
, 5F110DD12
, 5F110DD13
, 5F110DD17
, 5F110DD30
, 5F110EE05
, 5F110EE09
, 5F110EE14
, 5F110EE32
, 5F110FF02
, 5F110FF04
, 5F110GG01
, 5F110GG02
, 5F110GG06
, 5F110GG12
, 5F110GG19
, 5F110GG25
, 5F110GG44
, 5F110GG60
, 5F110HJ13
, 5F110HK05
, 5F110HM15
, 5F110QQ11
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