特許
J-GLOBAL ID：200903055692638543
半導体遮断器の過電流保護装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
志賀 富士弥 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-146964
公開番号（公開出願番号）：特開平10-336874
出願日： 1997年06月05日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：
【要約】【課題】 di/dt検出による過電流保護の不要動作をなくす。【解決手段】 過電流を半導体遮断器の耐量で決まる第1の過電流レベル検出する第1の過電流検出回路1と、過電流を第1の過電流レベルから予想される最大di/dt時の装置遅れにより発生する遮断電流の増加分を差し引いた第2の過電流レベルで検出する第2の過電流検出回路2と、電流のdi/dtを検出し、そのdi/dtレベルを所定の設定値と比較するdi/dt検出・レベル判定回路3とを有し、第2の過電流検出回路2が過電流を検出した場合、di/dt検出・レベル判定回路3がdi/dtレベルが設定値以上と判定した時点で半導体遮断器を遮断し、di/dtレベルが設定値以上の判定のみで遮断した場合の不要動作をなくする。第1の過電流検出回路1が過電流を検出した場合は無条件で遮断する。
請求項（抜粋）：
装置通過電流の過電流を半導体遮断器の耐量で決まる第1の過電流レベルで検出する第1の過電流検出回路と、装置通過電流の過電流を前記第1の過電流レベルから予想される最大di/dt時に装置の動作遅れにより発生する遮断電流の増加分を差し引いた第2の過電流レベルで検出する第2の過電流検出回路と、装置通過電流のdi/dtを検出しそのdi/dtレベルが所定の設定値以上かどうかを判定するdi/dt検出・レベル判定回路とを有し、第2の過電流検出回路が過電流を検出した場合、di/dt検出・判定回路がdi/dtレベルが設定値以上と判定した時点で遮断し、第1の過電流検出回路が過電流を検出した場合、無条件に即時に遮断することを特徴とする半導体遮断器の過電流保護装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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