特許

J-GLOBAL ID：200903055708502272

平面検出器及びこれを用いたX線診断装置

発明者： 富崎 隆之 ,  坂口 卓弥
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-269539
公開番号（公開出願番号）：特開2000-162320
出願日： 1999年09月22日
公開日（公表日）： 2000年06月16日
要約：

【要約】【課題】 1枚の基板の表裏を有効に活用することにより、基板サイズを大きくすることなく、設計上の自由度を大きくする。【解決手段】 光電変換素子、容量及びTFTを含む画素と、これらの画素のTFTを介して信号を読み出す信号線とをガラス基板の表面に形成し、各画素を選択する垂直選択線をガラス基板の裏面に形成し、ガラス基板に電気的コンタクトを縦設して、このコンタクトによりTFTのゲートと垂直選択線とを接続する。信号線と垂直選択線とがガラス基板の厚みを介して交差し、その間の配線容量が減少する。

請求項（抜粋）：

基板と、この基板の片面に形成した第1の回路及び基板の他面に形成した第2の回路と、これら第1及び第2の回路が複数の光電変換素子、複数の容量及び複数のスイッチ素子を含むことと、前記基板に縦設され前記第1及び第2の回路を結ぶ電気コンタクトとを特徴とする平面検出器。

IPC (4件)：

G01T 1/20 ,  A61B 6/00 300 ,  H01L 27/00 301 ,  H01L 27/14

FI (4件)：

G01T 1/20 E ,  A61B 6/00 300 S ,  H01L 27/00 301 W ,  H01L 27/14 K