特許

J-GLOBAL ID：200903055769648075

プログラム開発支援装置、プログラム開発支援方法およびプログラム

発明者： 廣岡 孝志 ,  平井 千秋 ,  渋谷 廣二 ,  毛木 正雄 ,  木村 恭久 ,  島袋 潤 ,  鮎川 江里香
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 特許業務法人湘洋内外特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-302532
公開番号（公開出願番号）：特開2006-113934
出願日： 2004年10月18日
公開日（公表日）： 2006年04月27日
要約：

【課題】プログラムの部分毎の重要度を提示してプログラム開発を支援する。【解決手段】プログラムの部分毎に、当該部分がプログラムの他の部分に与える複雑度を示すメトリクス情報が記憶されたメトリクス情報記憶部32と、プログラムで発生した不良毎に、不良対策のために修正したプログラムの部分および当該不良がプログラム利用者に与えた影響度を示す不良情報が記憶された不良情報記憶部34と、プログラムの部分毎に、当該部分のメトリクス情報が示す複雑度、および、不良対策のために当該部分を修正する各不良の不良情報が示す影響度を用いて、当該部分に割り付けるべきプログラム開発工数の大きさを示す重要度を決定する不良修正困難度解析部23および重要度決定部24と、決定されたプログラムの各部分の重要度を出力する入出力部1と、を有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

プログラムの開発を支援するプログラム開発支援装置であって、 前記プログラムの部分毎に、当該部分が前記プログラムの他の部分に与える複雑度を示すメトリクス情報が記憶されたメトリクス情報記憶手段と、 前記プログラムで発生した不良毎に、不良対策のために修正した前記プログラムの部分および当該不良がプログラム利用者に与えた影響度を示す不良情報が記憶された不良情報記憶手段と、 前記プログラムの部分毎に、当該部分のメトリクス情報が示す複雑度、および、不良対策のために当該部分を修正する各不良の不良情報が示す影響度を用いて、当該部分に割り付けるべきプログラム開発工数の大きさを示す重要度を決定する演算手段と、 前記演算手段で決定した前記プログラムの各部分の重要度を出力する重要度出力手段と、を有すること を特徴とするプログラム開発支援装置。

IPC (1件)：

G06F 9/44

FI (1件)：

G06F9/06 620J

Fターム (4件)：

5B076EC09 ,  5B076EC10 ,  5B176EC09 ,  5B176EC10

引用特許：

出願人引用 (2件)

• プログラム構造図作成方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-145071   出願人：日本電気株式会社
• 作業支援装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-222349   出願人：株式会社日立製作所