特許
J-GLOBAL ID：200903055769802813
IC試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
若林 忠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-142905
公開番号（公開出願番号）：特開平9-325176
出願日： 1996年06月05日
公開日（公表日）： 1997年12月16日
要約：
【要約】【課題】相対的に低電圧振幅の論理レベルと相対的に高電圧振幅の論理レベルとが共存するICを対象とするIC試験装置において、高速動作性能を犠牲とすることなく、安価に構成できるようにする。【解決手段】ピンエレクトロニクスとして、TTL-CMOS系ピンエレクトロニクス10を基本構成とし、高電圧系の論理信号が必要な場合には、TTL-CMOS系ピンエレクトロニクス10に高電圧オプション20を取り付けるようにする。高電圧オプション20には、TTLやCMOS論理回路でのドライブレベルを高電圧系でのドライブレベルに変換するためのレベルアンプ24,25と、高電圧系の論理信号を生成する高電圧ドライバ21と、高電圧系の論理信号を分圧してTTL-CMOS系ピンエレクトロニクス10内のコンパレータ12に出力するアッテネータ(抵抗R1,R2)とを設ける。
請求項（抜粋）：
試験対象のICのピンにそれぞれ対応するピンエレクトロニクスを有するIC試験装置において、前記ピンエレクトロニクスが、試験用のパターン信号が供給されるとともに前記ピンとの接続に使用される入出力端子を備えた基本ピンエレクトロニクスと、前記基本ピンエレクトロニクスに対して取り付け可能な高電圧オプションとによって構成され、前記基本ピンエレクトロニクスが、相対的に低振幅の論理信号に対応する第1のドライバレベルが供給されパターン信号に応じて論理信号を発生して前記入出力端子から出力するドライバと、前記相対的に低振幅の論理信号に対応するコンパレータレベルが供給され前記入出力端子から論理信号が入力するコンパレータとを有し、前記高電圧オプションが、前記基本ピンエレクトロニクスに取り付けられたときに前記基本ピンエレクトロニクスから前記第1のドライバレベルと前記パターン信号とを供給されるとともに前記入出力端子に接続するものであり、前記第1のドライバレベルを相対的に高振幅の論理信号に対応する第2のドライバレベルに変換するレベルアンプと、前記レベルアンプから前記第2のドライバレベルが供給され前記パターン信号に応じて論理信号を発生して前記入出力端子から出力する高電圧ドライバと、前記入出力端子から入力した論理信号を分圧して前記コンパレータに出力するアッテネータとを有することを特徴とするIC試験装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/28 M
, G01R 31/26 G
