特許
J-GLOBAL ID：200903055795216973
超音波探触子及びその製造方法並びにその超音波探触子を用いた超音波診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西山 春之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-106672
公開番号（公開出願番号）：特開平11-299779
出願日： 1998年04月16日
公開日（公表日）： 1999年11月02日
要約：
【要約】【課題】 アーチファクトの発生を少なくして、被検体内部の断層像を高分解能に観察したり、電子走査で任意箇所の3次元表示を可能とする超音波探触子を提供する。【解決手段】 超音波探触子の振動子を、圧電材料の厚み方向の上下両面に外部電極を、厚み内に所定間隔で複数層の内部電極を有すると共に、互いに異なる二つの側面において上記上面又は下面の外部電極と一つおきの内部電極とを別系統の配線となるように接続してなる振動子素子(20)の複数個を直交する2方向に配列して2次元配列振動子を構成し、上記振動子素子(20)毎に超音波の送受信を行うようにしたものである。これにより、アーチファクトの発生を少なくして、被検体内部の断層像を高分解能に観察したり、電子走査で任意箇所の3次元表示を可能とする。
請求項（抜粋）：
圧電材料の厚み方向の上下両面に外部電極を、厚み内に所定間隔で複数層の内部電極を有すると共に、互いに異なる二つの側面において上記上面又は下面の外部電極と一つおきの内部電極とを別系統の配線となるように接続してなる振動子素子の複数個を直交する2方向に配列して2次元配列振動子を構成し、上記振動子素子毎に超音波の送受信を行うようにしたことを特徴とする超音波探触子。
IPC (4件)：
A61B 8/00
, B06B 1/02
, G01N 29/24 502
, H04R 17/00 332
A61B 8/00
, B06B 1/02 K
, G01N 29/24 502
, H04R 17/00 332 Y
