特許
J-GLOBAL ID：200903055807713692

様々な負荷条件でDUTの信号ポートにおける測定データを収集する装置

発明者：
ジャン・ヴェルスペヒト

ジャン・ヴェルスペヒト について

, 
イウォート・ヴァンダメ

イウォート・ヴァンダメ について


出願人/特許権者：
アジレント・テクノロジーズ・インク

アジレント・テクノロジーズ・インク について


代理人 (1件)： 古谷 馨 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-278546
公開番号（公開出願番号）：特開2003-194861
出願日： 2002年09月25日
公開日（公表日）： 2003年07月09日
要約：
【要約】【課題】整合のとれていない負荷環境において検査対象デバイスの非線形動作を特徴付け、非直線散乱関数を導出するための測定を実施するための装置を提供すること。【解決手段】RF検査対象デバイスおよびマイクロ波検査対象デバイスの信号ポート(1,2)においてRF信号測定データを収集するための装置。本装置は、DUT(3)の信号ポート(1,2)において入射RF信号および反射RF信号を測定するための手段(6)と、基本周波数のRF信号および該基本周波数の高調波を生成するための波形合成手段(10,11,18)と、前記基本周波数および高調波についてDUT(3)が様々なインピーダンス条件になるように負荷をかけるように構成された同調手段(24,25)と、前記波形合成手段(10,11,18)のRF信号をDUT(3)の信号ポート(1,2)へ供給するための手段(12-16,19-23)とを含む。本装置は非線形ネットワーク測定システム(NNMS)(26)の一部として形成することもできる。
請求項（抜粋）：
RF検査対象デバイスおよびマイクロ波検査対象デバイスの信号ポートにおいてRF信号測定データを収集するための装置であって、前記信号ポートの入射RF信号および反射RF信号を測定するための手段と、基本周波数のRF信号および該基本周波数の高調波を生成するための波形合成手段と、前記基本周波数および高調波について様々な負荷条件で前記検査対象デバイスに負荷をかけるように構成された同調手段と、前記波形合成手段のRF信号を前記検査対象デバイスの信号ポートへ供給するための手段と、からなる装置。
IPC (4件)：
G01R 27/28 ,  G01R 27/04 ,  G01R 31/00 ,  H03F 1/56
FI (4件)：
G01R 27/28 Z ,  G01R 27/04 ,  G01R 31/00 ,  H03F 1/56
Fターム (20件)：
2G028BB11 ,  2G028CG15 ,  2G028DH03 ,  2G028DH11 ,  2G028DH15 ,  2G036AA28 ,  2G036BA46 ,  2G036CA12 ,  5J091AA01 ,  5J091AA41 ,  5J091CA00 ,  5J091CA75 ,  5J091FA10 ,  5J091HA29 ,  5J091HA33 ,  5J091HA38 ,  5J091KA00 ,  5J091KA12 ,  5J091KA68 ,  5J091SA13
引用特許：
審査官引用 (3件)
引用文献：
審査官引用 (5件)
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