特許
J-GLOBAL ID:200903055834513344

タッキネス測定装置、タッキネス測定方法及びタッキネス測定装置用接触端子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中島 淳 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-343522
公開番号(公開出願番号):特開2001-159598
出願日: 1999年12月02日
公開日(公表日): 2001年06月12日
要約:
【要約】【課題】 測定作業が容易で、短時間で正確なタッキネスの測定を行うことのできるタッキネス測定装置を提供すること。【解決手段】 接触端子16を球形状としたので、接触端子16を粘着性を有する未加硫のゴム部材18から引き剥がす際の移動方向が、装置の引張力を測定する方向に対して多少傾斜しても、タッキネスの測定値のバラツキは非常に小さく、正確にタッキネスを測定することが可能となる。
請求項(抜粋):
粘着力を有する被測定物に粘着させる接触端子と、前記接触端子に作用する押圧力及び引張力を測定する測定手段を備えたタッキネス測定装置であって、前記接触端子は、少なくとも前記被測定物を接触する部分の形状を球面としたことを特徴とするタッキネス測定装置。
IPC (2件):
G01N 19/04 ,  G01L 5/00
FI (2件):
G01N 19/04 D ,  G01L 5/00 Z
Fターム (4件):
2F051AA00 ,  2F051AB06 ,  2F051AC01 ,  2F051AC09

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