特許

J-GLOBAL ID：200903055840771550

眼内寸法測定装置

発明者： 畑中 英樹
出願人/特許権者： 株式会社トプコン
代理人 (1件)： 西脇 民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-125241
公開番号（公開出願番号）：特開平5-317256
出願日： 1992年05月19日
公開日（公表日）： 1993年12月03日
要約：

【要約】【目的】 被検眼の瞬き、固視微動等の被検眼の動きによる測定誤差を極力避けて眼内寸法の測定精度の向上を図ることのできる眼内寸法測定装置を提供することを目的とする。【構成】 被検眼角膜にリング像を投影してそのリング像を二次元イメージセンサに受像するリング像投影受像光学系と、測定対象面に測定光を照射すると共に参照面に参照光を照射して測定対象面からの反射光と参照面からの反射光とを干渉させて干渉光をホトセンサにより受光して干渉信号を出力する干渉光学系と、ホトセンサから出力される干渉信号をサンプリングして測定対象面の位置を決定する測定対象面位置決定回路と、測定対象面位置決定回路のサンプリングの途中で二次元イメージセンサに受像されたリング像のデータを記録媒体に記憶させる読取り手段と、記録媒体に記憶されたリング像のデータに基づき角膜頂点位置を決定する角膜頂点位置決定回路とを備えている。

請求項（抜粋）：

被検眼角膜にリング像を投影してそのリング像を二次元イメージセンサに受像するリング像投影受像光学系と、眼内測定対象物の測定対象面に測定光を照射すると共に測定対象面に対応する参照面に参照光を照射して前記測定対象面からの測定反射光と前記参照面からの参照反射光とを干渉させて干渉光をホトセンサにより受光して干渉信号を出力する干渉光学系と、該ホトセンサから出力される干渉信号をサンプリングして測定対象面の位置を決定する測定対象面位置決定回路と、前記測定対象面位置決定回路のサンプリングの途中で前記二次元イメージセンサに受像されたリング像のデータを記録媒体に記憶させるために読み取る読取り手段と、前記記録媒体に記憶されたリング像のデータに基づき角膜頂点の位置を決定する角膜頂点位置決定回路と、を備えていることを特徴とする眼内寸法測定装置。