特許

J-GLOBAL ID：200903055842777857

装置試験機

発明者： 中里 好伸
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-223725
公開番号（公開出願番号）：特開平6-067924
出願日： 1992年08月24日
公開日（公表日）： 1994年03月11日
要約：

【要約】【構成】IO15から試験開始指示を行うと、MCP12はEQIF11を介してSTにより被試験製品2に試験起動がかかる。被試験製品2では、準備が完了するとCPU22はTIF21を介してCTLに確認信号を返送してくる。CPU22はDTにより送られてくる試験用データによりFA24a〜FN24nの試験を実行し、試験結果データをDTに返送する。試験機1は音声信号の送信をVD,CKDにより行い、被試験製品2が正常であれば音声信号をVU,CKUにより返送してくる。試験プログラムによる被試験製品2のすべての試験が終了したときMCP12は試験終了信号をSTに送り、CTLによりその確認信号を受信する。この試験中の試験経過は逐一IO15に表示される。【効果】装置試験機の数量が少なくなり、試験機の設計,製造費用を含む生産コストが大幅に削減される。

請求項（抜粋）：

それぞれ単独機能を有する複数のユニットを有する被試験製品の試験をインタフェースケーブルを介して行う装置試験機であって、前記被試験製品は前記装置試験機とインタフェースするテストインタフェース部を備え、前記装置試験機は前記被試験製品を試験するテストプログラムをロードするメモリと、前記テストプログラムを実行するマイクロプロセッサとを備えることを特徴とする装置試験機。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-105430
  
• 特開平3-142634
  
• 特開昭56-022145