特許
J-GLOBAL ID：200903055844846228

断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム

発明者：
寺川 賢祐

寺川 賢祐 について

, 
伊藤 渡

伊藤 渡 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (3件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛 ,  本澤 大樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-311288
公開番号（公開出願番号）：特開2008-128710
出願日： 2006年11月17日
公開日（公表日）： 2008年06月05日
要約：
【課題】光トモグラフィー計測により得られる断層画像の分解能の劣化を防止する。【解決手段】光Lを射出したときに得られる干渉信号ISが異なる波長帯域毎に複数分割され、複数の分割干渉信号IS1〜IS4が取得される。そして、複数の複数の干渉信号IS1〜IS4についてそれぞれスペクトル解析が行われ、複数の中間断層情報r1(z)〜r4(z)が取得される。この複数の中間断層情報r1(z)〜r4(z)を用いて断層情報r(z)が取得され、断層情報r(z)に基づき断層画像Pが生成され表示される。【選択図】図11
請求項（抜粋）：
所定の波長帯域の光を射出し、射出した光を測定光と参照光とに分割し、該測定光が測定対象の各深さ位置において反射したときの反射光と前記参照光とを合波し、合波した前記反射光と前記参照光との干渉光を干渉信号として検出したときに、該干渉信号から断層画像を生成する断層画像処理方法であって、 前記光が射出されたときに検出される前記干渉信号を異なる波長帯域毎に分割して複数の分割干渉信号を生成し、 生成した前記複数の分割干渉信号をそれぞれ解析することにより前記測定対象の各深さ位置の断層情報を中間断層情報として複数取得し、 取得した複数の前記中間断層情報を用いて前記測定対象の断層情報を取得し、 取得した前記断層情報を用いて前記測定対象の断層画像を生成する ことを特徴とする断層画像処理方法。
IPC (3件)：
G01N 21/17 ,  A61B 10/00 ,  A61B 1/00
FI (3件)：
G01N21/17 625 ,  A61B10/00 E ,  A61B1/00 300D
Fターム (39件)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG08 ,  2G059GG09 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK03 ,  2G059LL02 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM09 ,  2G059MM11 ,  2G059NN01 ,  4C061AA00 ,  4C061BB05 ,  4C061CC07 ,  4C061DD00 ,  4C061FF47 ,  4C061HH51 ,  4C061LL01 ,  4C061MM10 ,  4C061NN01 ,  4C061NN05 ,  4C061PP11 ,  4C061QQ01 ,  4C061SS21 ,  4C061WW11
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (12件)
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