特許

J-GLOBAL ID：200903055861149441

自動粒子計測システム

発明者： 奥井 敬造
出願人/特許権者： ニッタ株式会社
代理人 (1件)： 辻本 一義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-296534
公開番号（公開出願番号）：特開2000-121542
出願日： 1998年10月19日
公開日（公表日）： 2000年04月28日
要約：

【要約】【課題】 高い粒子濃度の流体中における微粒子の計測が長期間確実に行える自動粒子計測システムを提供すること。【解決手段】 高い粒子濃度の流体中における微粒子を計測する自動粒子計測システムにおいて、光散乱式又は光減衰式の粒子計測器30の計測セル部30dに微粒子を含まない希釈流体を連続して流すようにすると共に前記希釈流体中に間欠的に被希釈流体を注入するようにしてあり、希釈流体中に被希釈流体を注入しているときのみ計測するようにしてある。

請求項（抜粋）：

高い粒子濃度の流体中における微粒子を計測する自動粒子計測システムにおいて、光散乱式又は光減衰式の粒子計測器の計測セル部に微粒子を含まない希釈流体を連続して流すようにすると共に前記希釈流体中に間欠的に被希釈流体を注入するようにしてあり、希釈流体中に被希釈流体を注入しているときのみ計測するようにしてあることを特徴とする自動粒子計測システム。

IPC (3件)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/53 ,  G01N 21/59

FI (3件)：

G01N 15/14 A ,  G01N 21/53 Z ,  G01N 21/59 Z

Fターム (12件)：

2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB09 ,  2G059DD04 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ14 ,  2G059KK01 ,  2G059MM05 ,  2G059PP01 ,  2G059PP02