特許
J-GLOBAL ID：200903055893476029
対応点探索方法及びこれを用いたマッチング装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
秋田 収喜
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-273428
公開番号（公開出願番号）：特開2003-085566
出願日： 2001年09月10日
公開日（公表日）： 2003年03月20日
要約：
【要約】【課題】 誤差や探索誤りを軽減し、滑らかな対応点探索が可能な技術を提供することにある。【解決手段】 一対の撮像画像の内の一方の撮像画像の画素毎の対応先を、他方の撮像画像において特定する画像間の対応点探索方法において、前記一方の撮像画像での走査線を特定するステップと、前記他方の撮像画像の探索範囲に含まれる視差ベクトル値を状態遷移モデルのノードとして設定するステップと、予め設定されたブロック内のマッチング誤差及び隣接ノード間でのベクトルの連続性を前記状態遷移モデルのノード間のパスの重みとして設定するステップと、前記状態遷移モデルに基づいてビタビアルゴリズムにより前記他方の撮像画像の1走査線上の各画素の対応点を一括して推定するステップとを備える。
請求項（抜粋）：
一対の撮像画像の内の一方の撮像画像の画素毎の対応先を、他方の撮像画像に対して特定する画像間の対応点探索方法において、前記一方の撮像画像での走査線を特定するステップと、前記他方の撮像画像の探索範囲に含まれる視差ベクトル値を状態遷移モデルのノードとして設定するステップと、予め設定されたブロック内のマッチング誤差及び隣接ノード間でのベクトルの連続性を前記状態遷移モデルのノード間のパスの重みとして設定するステップと、前記状態遷移モデルに基づいてビタビアルゴリズムにより前記他方の撮像画像の1走査線上の各画素の対応点を一括して推定するステップとを備えることを特徴とする画像間の対応点探索方法。
IPC (4件)：
G06T 7/60 150
, G06T 7/00 300
, G06T 7/20
, H04N 7/32
G06T 7/60 150 B
, G06T 7/00 300 E
, G06T 7/20 Z
, H04N 7/137 Z
5C059MA00
, 5C059NN03
, 5C059NN28
, 5C059PP04
, 5C059PP26
, 5C059UA02
, 5L096FA69
, 5L096GA19
, 5L096HA01
, 5L096JA03
