特許

J-GLOBAL ID：200903055901441396

位置測定方法

発明者： 松本 重貴
出願人/特許権者： 株式会社ディーディーアイ
代理人 (1件)： 脇 篤夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-306575
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124507
出願日： 1999年10月28日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】 地磁気あるいは人工的に発生した磁界の乱れの有無にかかわらず、これらの磁界を参照して位置測定を行う。【解決手段】 位置測定系PMAは、3軸磁気測定手段TMM、傾斜角測定手段TAMおよび回転角測定手段RAMを有している。外乱磁界の発生源を任意個数の磁気ダイポールであると仮定する。そして、前記磁気ダイポールの個数の3倍+2個以上の測定点で、前記位置測定系PMAを用いて、その地点における磁界とその傾斜角と回転角を測定する。そして、測定の基準となる磁界と前記磁気ダイポールにより発生するとした外乱磁界の和と、各測定地点で測定した磁界が等しくなるという条件から、1個の測定地点の位置と各測定地点における位置測定系の方位、前記各磁気ダイポールの位置、大きさおよび方位を算出する。

請求項（抜粋）：

水平からの傾斜角を検知するための傾斜角測定手段と、軸周りの回転角を検知するための回転角測定手段と、互いに直交する3個の方向に感度軸を有する3軸磁気測定手段とを有する位置測定系を用いて、強度及び方向が既知の基準磁界を基準とする前記位置測定系の位置を測定する位置測定方法であって、前記強度及び方向が既知の基準磁界に対する外乱磁界が存在するときに、外乱磁界発生源を任意個数の磁気ダイポ-ルであると仮定し、前記位置測定系により、前記外乱磁界発生源の個数の3倍+2個以上の相異なる測定地点であって、かつ、任意の測定地点と次の測定地点の間の距離が既知である測定地点で測定を行い、前記各測定地点で測定した磁界と、前記基準磁界と前記磁気ダイポ-ルにより発生したとして算出した磁界の和とが等しくなる条件から、任意の1個の測定地点の位置と前記各測定地点における位置測定系の方位を算出するようにしたことを特徴とする位置測定方法。

IPC (5件)：

G01B 7/00 ,  E21B 7/04 ,  E21D 9/06 311 ,  G01B 7/30 101 ,  G01C 21/08

FI (5件)：

G01B 7/00 R ,  E21B 7/04 A ,  E21D 9/06 311 D ,  G01B 7/30 101 A ,  G01C 21/08

Fターム (18件)：

2D029DA03 ,  2D054AC18 ,  2D054GA04 ,  2D054GA17 ,  2D054GA19 ,  2D054GA62 ,  2D054GA85 ,  2D054GA92 ,  2F063AA04 ,  2F063AA35 ,  2F063AA37 ,  2F063CA08 ,  2F063CA09 ,  2F063DA01 ,  2F063DB06 ,  2F063DC08 ,  2F063DD06 ,  2F063LA13