特許

J-GLOBAL ID：200903055938060953

距離測定装置の汚れ検出装置

発明者： 赤須 雅平
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 曾我 道照 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-078195
公開番号（公開出願番号）：特開平6-289134
出願日： 1993年04月05日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：

【要約】【目的】 距離測定装置と物体間とを光往復時間に基づいて演算された物体までの距離測定結果の低下より距離測定装置の光透過路の汚れを判定するものである。【構成】 距離測定対象となる物体7を照射する送光部1と、送光部1によって照射された物体7よりの反射光を受光する受光部2と、送光部1による送光時より受光部2から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて物体7までの距離を測定する距離測定手段31と、受光部2より出力される受光出力を取り込み毎に、この受光出力に基づいて物体7の検出及び未検出を判定する物体検出手段32と、距離測定手段31による距離測定回数と物体検出手段32による物体未検出との割合による物体未検出頻度に従って送光部1或は受光部2の光透過路の汚れを判定する汚れ判定手段33とを備えている。

請求項（抜粋）：

距離測定対象となる物体を照射する送光部と、この送光部によって照射された物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送光部による送光時より前記受光部から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて前記物体までの距離を測定する距離測定手段と、前記受光部より出力される受光出力を取り込み毎に、この受光出力に基づいて前記物体の検出及び未検出を判定する物体検出手段と、前記距離測定手段による距離測定回数と前記物体検出手段による物体未検出との割合による物体未検出頻度に従って前記送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ判定手段とを備えたことを特徴とする距離測定装置の汚れ検出装置。