特許

J-GLOBAL ID：200903055997913706

ATM伝送システムにおけるパスルート試験方式

発明者： 瓜生 士郎 ,  加久間 哲 ,  吉村 修二
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 大菅 義之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-060739
公開番号（公開出願番号）：特開平6-276217
出願日： 1993年03月19日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：

【要約】【目的】 システム内のパスルートの正常性を判定するための、ATM伝送システムにおけるパスルート試験方式に関し、オンラインで試験を行うことを目的とする。【構成】 システム1内の1つ以上の個所に、セルイネーブル信号の入力を受けて有効セルの到着を検出する手段2と、該個所を通るべきセルに対して付加されているVPIとVCIの値を保持し、これらの値と到着セルに付加されている値とを比較する手段3と、有効セルが到着し、かつVPIとVCIとがそれぞれ一致したときパスルートの正常性を確認する手段4とをそれぞれ備えるように構成する。

請求項（抜粋）：

非同期転送モード(ATM)によりセル形式でデータ転送を行うATM伝送システムにおいて、該ATM伝送システム(1)内に1つのパスのみが張られた時、該システム内の1つ以上の個所に、有効セルの送出を示すセルイネーブル信号の入力を受けて有効セルの到着を検出する有効セル検出手段(2)を備え、システム内のパスルートの正常性を該有効セル到着により確認することを特徴とするATM伝送システムにおけるパスルート試験方式。

IPC (2件)：

H04L 12/48 ,  H04L 29/14

FI (2件)：

H04L 11/20 Z ,  H04L 13/00 315 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平2-218239
  
• 特開平4-369945
  
• 特開昭59-002194