特許
J-GLOBAL ID：200903056008151262
粒子解析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-251196
公開番号（公開出願番号）：特開平10-096688
出願日： 1996年09月24日
公開日（公表日）： 1998年04月14日
要約：
【要約】【課題】粒子解析装置において高濃度サンプル測定時のキャリーオーバーを防止し、洗浄液の浪費を抑え、廃液を削減する。【解決手段】洗浄の命令系統はサンプル2内の粒子を分類・計数する分析部24と洗浄機構駆動手段22とコンピュータ23からなる。サンプル粒子濃度と必要洗浄液量との関係はあらかじめ実験・計算により求め、コンピュータ23に記憶させておく。サンプル2測定時、コンピュータは分析部より粒子数の情報を受け取り必要な洗浄液量・洗浄時間を選定し、洗浄機構駆動手段に必要な洗浄動作を行わせる。
請求項（抜粋）：
粒子を含むサンプル液を流路に流し、前記流路内を通過する粒子を分類・計数する手段と、測定後サンプルの接触部を洗浄する洗浄手段を有する粒子解析装置において、測定したサンプルの粒子数に応じて、サンプルの接触部の洗浄時間または洗浄液量またはその両方を自動的に調整することを特徴とする粒子解析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 15/06 Z
, G01N 33/49 E
