特許
J-GLOBAL ID：200903056017210387
透磁率温度計測装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田代 烝治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-139552
公開番号（公開出願番号）：特開平8-334419
出願日： 1995年06月06日
公開日（公表日）： 1996年12月17日
要約：
【要約】【目的】 数百度乃至1000°C付近の温度計測において高応答性を有し、且つ耐久性を有する透磁率温度計測装置を得ること。【構成】 ゼロクロス検出回路6、Ex-OR回路7、ローパスフィルタ8、VCO10及びJ-Kフリップフロップ11は、いわゆるPLL回路を構成しており、CT19により検出された直列共振回路を構成する巻線コイル2に流れる電流が、この回路に入力されることで、インバータ装置4を介して巻線コイル2及び結合コンデンサ15,20により直列共振回路へは、温度の変化による共振周波数の変化があっても、最終的には共振周波数の交流電圧が印加されることとなり、この共振周波数と温度との関係から図示されない演算回路により温度計測ができるようになっている。
請求項（抜粋）：
被温度計測部位に配置される磁性体と、前記磁性体に巻回されたコイルとコンデンサとからなる直列共振回路と、外部から入力される制御信号に応じて繰り返し周波数が変化可能であり、前記直流共振回路の電源となる交流電圧を発生する可変周波数信号発生手段と、前記直列共振回路における電流と電圧との位相差を検出し、この位相差が零となるように前記可変周波数信号発生手段の繰り返し周波数を制御する周波数制御手段と、前記可変周波数信号発生手段の周波数に基づいて前記温度計測部位の温度を算出する温度算出手段と、を備えたことを特徴とする透磁率温度計測装置。
引用特許：
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