特許

J-GLOBAL ID：200903056020323656

放射線測定装置

発明者： 山田 真史 ,  泉 幹雄
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 紋田 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-056608
公開番号（公開出願番号）：特開2001-242257
出願日： 2000年03月02日
公開日（公表日）： 2001年09月07日
要約：

【要約】【課題】 信号処理が簡素化でき精度良く広い測定範囲で放射線を検出できる放射線検出装置を提供することである。【解決手段】 常温半導体検出器1で検出された放射線エネルギーに比例した電荷量は、アンプ2で増幅されA/D変換部3でデジタル信号に変換されて信号処理部4の電荷生成深さ決定部5に入力される。電荷生成深さ決定部5では、デジタル信号の電子信号および正孔信号に基づいて電荷生成深さを特定し、正孔信号補正部6では電荷生成深さに応じて正孔信号の波高欠損を補正する。そして、全信号補正部7では、正孔信号補正部6で補正された正孔信号と常温半導体検出器1で検出された電子信号とから真の電荷の波高値を求め放射線エネルギーを求める。

請求項（抜粋）：

照射された放射線に比例して発生した電子および正孔の電荷量を検出する常温半導体検出器と、前記常温半導体検出器で検出された電荷量をデジタル信号に変換するA/D変換部と、前記A/D変換部からのデジタル信号に基づいて放射線エネルギーを求める信号処理部とを備えた放射線測定装置において、前記信号処理部は、前記A/D変換部でデジタル信号に変換された電子信号および正孔信号に基づいて電荷生成深さを特定する電荷生成深さ決定部と、前記電荷生成深さ決定部で特定された電荷生成深さに応じて正孔信号の波高欠損を補正する正孔信号補正部と、前記正孔信号補正部で補正された正孔信号と前記常温半導体検出器で検出された電子信号とから真の電荷の波高値を求め放射線エネルギーを求める全信号補正部とを備えたことを特徴とする放射線測定装置。

IPC (3件)：

G01T 1/24 ,  G01T 1/17 ,  G01T 1/36

FI (4件)：

G01T 1/24 ,  G01T 1/17 F ,  G01T 1/17 H ,  G01T 1/36 D

Fターム (8件)：

2G088FF15 ,  2G088GG21 ,  2G088KK01 ,  2G088KK02 ,  2G088KK07 ,  2G088KK18 ,  2G088KK24 ,  2G088LL05