粒子検出装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：日比谷征彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-323529
公開番号（公開出願番号）：特開平8-159949
出願日： 1994年11月30日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：

【要約】【目的】空気中の被検粒子の質量濃度を測定する。【構成】光源10からのレーザー光の光軸にほぼ直交するように被検粒子を含む空気の通過経路を設け、被検粒子からの散乱光を受光素子12により検出する。このとき、非球面レンズ11によりレーザー光を通過経路内の集光点Cに集光させ、この集光点Cを中心として光軸方向に沿って光ビームの光強度に勾配を持たせることにより、被検粒子を粒径に応じた検知領域幅により検出して、質量濃度に比例した実測値を得る。

請求項（抜粋）：

光源と、該光源からの光ビームを空気の通過経路内の一部に集光し、集光点を中心として光軸方向に沿って前記通過経路内の前記光ビームの光強度に勾配を持たせる集光レンズと、前記通過経路に被検粒子を含む空気を移送する空気移送手段と、前記光強度に勾配を有する領域を通過する被検粒子からの散乱光を検出する受光素子と、該受光素子の出力のうち被検粒子が所定の大きさ以上の散乱光を発生した場合にのみ検出する検出手段とを設けたことを特徴とする粒子検出装置。

引用特許：

出願人引用 (7件)

特開平2-163631
特開平4-168345
特開平3-108635

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審査官引用 (7件)

特開平2-163631
特開平4-168345
特開平3-108635

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