特許

J-GLOBAL ID：200903056062905027

X線回折装置

発明者： 岩田 周行
出願人/特許権者： 株式会社リコー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-277865
公開番号（公開出願番号）：特開2003-083915
出願日： 2001年09月13日
公開日（公表日）： 2003年03月19日
要約：

【要約】【課題】本発明は試料の結晶構造を解析するのに必要な、複数の結晶からの回折パターンを適切に識別するX線回折装置を提供する。【解決手段】X線回折装置1は、X線光源2から出射されたX線の波長をモノクロメータ3で選択して、回折対象の試料10に照射し、当該試料10から回折するX線を検出器7で検出するが、試料10と検出器7との間に環状スリット6が配設されている。したがって、ひとつのデバイリングを選択して、その回折に関係するXAFS信号を得えることができるとともに、環全体の強度を確保するために充分なXAFSの信号強度を得えることができ、複数の結晶からの回折パターンを適切に識別することができる。

請求項（抜粋）：

X線光源から出射されたX線の波長を分光器で選択して、回折対象の試料に照射し、当該試料から回折するX線を検出器で検出するX線回折装置において、前記試料と前記検出器との間に環状スリットを配設したことを特徴とするX線回折装置。

Fターム (14件)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001BA13 ,  2G001BA22 ,  2G001CA01 ,  2G001DA06 ,  2G001EA09 ,  2G001GA05 ,  2G001JA06 ,  2G001KA08 ,  2G001KA13 ,  2G001QA02 ,  2G001SA01 ,  2G001SA30