特許
J-GLOBAL ID：200903056115047443
画像濃度制御装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
丸山 明夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-321067
公開番号（公開出願番号）：特開平6-230643
出願日： 1993年11月26日
公開日（公表日）： 1994年08月19日
要約：
【要約】【目的】 レ-ザビ-ム径の差異、正確には、レ-ザビ-ム径の差異に起因して生ずる電位分布の差異による変動を補償して、良好な階調表現を実現する。【構成】 感光体表面をレ-ザビ-ムで露光して電位分布を有する電荷潜像を形成する手段、該電位分布を検出して記憶する手段、前記レ-ザビ-ムによる前記感光体の基準の光減衰曲線LDCを参照して前記電位分布のピ-ク電位に対応するピ-ク光量を求める手段、前記光減衰曲線LDCを参照して前記ピ-ク光量の半値の光量に対応する半値電位を求める手段、前記電位分布を参照して前記半値電位間の距離をビ-ム径とする手段、を有するビ-ム径検出装置。及び、該ビ-ム径検出装置により検出されたビ-ム径に対応する階調補正デ-タのテ-ブル群を選択し、AIDC時には、該選択したテ-ブル群から、階調補正テ-ブルを選択する画像濃度制御装置。
請求項（抜粋）：
所定のグリッド電位に制御した帯電チャ-ジャにより一様の電位に帯電させた感光体の表面に、所定の光量のレ-ザビ-ムで基準の電荷潜像を形成し、これを、所定の現像電位に制御した現像器でトナ-現像して、この基準のトナ-像の濃度を検出し、本番の画像形成時に於いて、前記基準のトナ-像の濃度に応じて前記グリッド電位と前記現像電位とを制御することにより、画像の濃度を最適に制御する画像濃度制御装置に於いて、一様に帯電された感光体の表面をレ-ザビ-ムで露光走査して、電位分布を有する電荷潜像を形成する手段と、前記電荷潜像の電位分布を検出する手段と、その検出結果に応じて電位状態を算出する手段と、各々の電位分布(状態)に対応し、且つ、前記基準のトナ-像の濃度に各々対応する階調補正デ-タ(群)を記憶している記憶手段と、前記電位分布検出手段により検出された電位分布に対応する階調補正デ-タ(群)を選択する第1選択手段と、前記第1選択手段により選択された前記デ-タ(群)から前記基準のトナ-像の濃度に対応するデ-タを選択する第2選択手段と、を有する画像濃度制御装置。
IPC (3件)：
G03G 15/00 303
, B41J 2/44
, G03G 15/04 120
