特許

J-GLOBAL ID：200903056132302520

光沢度測定装置

発明者： 吉川 邦幸
出願人/特許権者： 株式会社東海理化電機製作所
代理人 (1件)： 中島 淳 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-268883
公開番号（公開出願番号）：特開平8-128951
出願日： 1994年11月01日
公開日（公表日）： 1996年05月21日
要約：

【要約】【目的】 被測定面が曲面であっても、適正な光沢度の値を測定できるようにする。【構成】 光源10から出た光を、明暗パターン12に設けた合焦用明部34を透過し、投影レンズ14で集光して被測定面16に反射させ、受光部18のピンホール30を通して光電変換素子32に照射した状態で、投影レンズ14を移動する。このとき、光電変換素子32の光出力が最大値となる合焦位置を検出し、この合焦位置に投影レンズ14をセットした状態で光沢度の測定を行ない、適正な光沢度を測定する。

請求項（抜粋）：

光源から照射された光を透過する明暗パターンと、前記明暗パターンを透過した光を集光し、被測定面で反射させてから受光部のピンホール部分に像を結ぶようにする投影レンズと、前記ピンホールから入射した光に応じた光出力信号を出す光電変換素子と、を有する光沢度測定装置において、前記投影レンズの光軸を横切る方向に移動操作される前記明暗パターンの暗部に、前記ピンホール上に結像された明部の像の幅が同じ大きさとなるよう形成された合焦用明部と、前記投影レンズを移動し、光沢を有する曲面である被測定面に反射した光を受けた光電変換素子の光出力が最大となった合焦位置に、投影レンズを移動してセットするようにした制御部とを有することを特徴とする光沢度測定装置。