特許
J-GLOBAL ID：200903056173662182
光線路のパルス試験装置
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
光石 俊郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-124769
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322696
出願日： 1992年05月18日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：
【要約】【目的】 1対n光分配部品5を1又は2以上樹系図的に組み合わせて構成される1対N光分配形線路6において、分配数Nに依存することなく、スター部光ファイバを個別にもしくは少心毎に試験監視を行うことができるパルス試験装置を提供することにある。【構成】 1対n光分配部品の信号光伝送に関与していないポートを試験監視のためにに用い、かつ、各試験監視ポート毎に固有の試験監視波長を割り当てるようにしたものである。これにより、分配数Nに依存することなく、スター部光ファイバを個別にもしくは少心毎に試験監視を行うことができる。
請求項（抜粋）：
1個の入射側信号用ポートより入射した信号光を、n個(n>1)の出射側信号用ポートに分配して出射する1対n光分配部品を1又は2以上組み合わせることにより、1個の入射信号用ポートより入射した信号光を、N(N≧n)個の出力信号用ポートに分配して出射する1対N光分配形線路において、前記1対n光分配部品の有する複数のポートのうち入射信号用ポート、出射側信号用ポート以外の少なくとも一つを試験用ポートとして光パルス試験器に接続し、該試験用ポートは信号光と波長の異なる試験監視波長域のみを透過する光フィルタを具備すると共に前記光パルス試験器は試験監視波長域において波長可変機能を有した平面導波路型リングレーザを具備することを特徴とする光線路のパルス試験装置。
IPC (2件)：
前のページに戻る
