特許
J-GLOBAL ID：200903056180396447
半導体集積回路およびその検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井出 直孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-328600
公開番号（公開出願番号）：特開平7-182154
出願日： 1993年12月24日
公開日（公表日）： 1995年07月21日
要約：
【要約】【目的】 自社製のROMコードを載せたオリジナル品か他社の複製品かを識別できるようにする。【構成】 受注したROMコード毎に付与する特定の識別名称を記憶する手段と、記憶内容を内部あるいは外部に出力する手段とを備え、ROMコードの複製品が市場に出回った場合に記憶された識別名称により区別する。
請求項（抜粋）：
プログラムが記録されたROMを備えた半導体集積回路において、前記プログラム毎に分類されすべての製品について異なる識別名称を記録する記録領域を設け、この記録領域に記録された識別名称を読出す制御手段を備えたことを特徴とする半導体集積回路。
IPC (2件)：
G06F 9/06 550
, G06F 12/14 320
