特許
J-GLOBAL ID：200903056218007857
速度場計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山田 正紀 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-015734
公開番号（公開出願番号）：特開平11-211743
出願日： 1998年01月28日
公開日（公表日）： 1999年08月06日
要約：
【要約】【課題】本発明は、移動粒子が分布する速度場における、二次元平面内の粒子の速度を多点計測する速度場計測装置に関し、高速な移動粒子による速度場の計測にも適合した小型の速度場計測装置を提供する。【解決手段】半導体レーザ111,112と、その半導体レーザから出射したレーザ光をシート状に広げて移動粒子が分布する速度場を照射する照射光学系131,132と、シート状に広げられたレーザ光141,142により照射された速度場内の、レーザ光により照らされたシート面内の粒子を撮影して粒子分布画像を得る2台のCCDカメラ151,152と、半導体レーザから所望の時間間隔でレーザ光を2回ずつ発光させるとともに、各半導体レーザにつき2回の発光タイミングにおける粒子分布画像が2台のCCDカメラで分担して得られるように、半導体レーザの発光タイミングおよび2台のCCDカメラの画像取得タイミングを制御するタイミングスケジューラ171と、上記2台のCCDカメラで得られた2枚の粒子分布画像に基づいて粒子速度分布を求めるコンピュータ161とを備えた。
請求項（抜粋）：
半導体レーザと、該半導体レーザから出射したレーザ光をシート状に広げて、移動粒子が分布する速度場を照射する照射光学系と、シート状に広げられたレーザ光により照射された速度場内の、該レーザ光により照らされたシート面内の粒子を撮影して粒子分布画像を得る2台のカメラと、該半導体レーザから所望の時間間隔でレーザ光を2度発光させるとともに、前記2台のカメラで分担して、2回の発光タイミングにおける粒子分布画像が得られるように、前記半導体レーザの発光タイミングおよび前記2台のカメラの画像取得タイミングを制御するタイミングスケジューラと、前記2台のカメラで得られた2枚の粒子分布画像に基づいて粒子速度を求める演算部とを備えたことを特徴とする速度場計測装置。
引用特許：
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