特許

J-GLOBAL ID：200903056374141016

蛍光X線分析用ガラスビ-ド試料の調整方法

発明者： 岩田 富雄 ,  石黒 浩一 ,  丸山 軍二郎
出願人/特許権者： 三菱マテリアル株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-130890
公開番号（公開出願番号）：特開平6-341937
出願日： 1993年06月01日
公開日（公表日）： 1994年12月13日
要約：

【要約】【目的】 金属成分,還元性成分又は含水鉱物,炭酸塩等の試料が、溶融に用いた試料皿との間で合金を生成することがなく、また、合金を生成したり、溶融中に気泡が発生しても、平滑かつ平坦で分析精度の高い蛍光X線分析用ガラスビ-ド試料を形成できる。【構成】 白金又は白金を主体とする合金から成る試料皿を用いて試料と融剤とを加熱装置で加熱溶融して蛍光X線分析用ガラスビ-ド試料を作製する方法において、試料と融剤とを溶融試料皿に入れ、これを加熱装置で加熱溶融する工程と、溶融した試料を予め溶融専用試料皿と同一温度に加熱された鋳型専用試料皿に移す工程と、これを冷却する工程とを含む調整方法、及び前記試料皿の内面に、水又は有機溶剤に溶解した剥離剤を、噴霧又は塗布した後に、試料と融剤とを加熱装置で加熱する調整方法。

請求項（抜粋）：

白金又は白金を主体とする合金から成る試料皿を用いて試料と融剤とを加熱装置で加熱溶融して蛍光X線分析用ガラスビ-ド試料を作製する方法において、試料と融剤とを溶融試料皿に入れ、これを加熱装置で加熱溶融する工程と、溶融した試料を予め溶融専用試料皿と同一温度に加熱された鋳型専用試料皿に移す工程と、これを冷却する工程とを含む蛍光X線分析用試料の調整方法。

IPC (2件)：

G01N 1/28 ,  G01N 23/223