特許

J-GLOBAL ID：200903056442653667

製造プロセスにおける解析装置、方法、及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体

発明者： 赤木 俊夫 ,  伊勢 淳治
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-378068
公開番号（公開出願番号）：特開2002-183250
出願日： 2000年12月12日
公開日（公表日）： 2002年06月28日
要約：

【要約】【課題】 散布図や相関係数では捉えられないプロセス制御データと品質データとの間の相関を解析できるようにする。【解決手段】 鉄鋼プロセスにおいて、ある製造期間の製造ライン速度Vのとり得る値の範囲をL個の範囲に分割し、各範囲ごとの表面欠陥の個数Nの確率分布Piを求めて、各範囲iでの所定の累積確率がPcとなる欠陥発生個数NiPcを算出する。そして、製造ライン速度Vと上記所定の累積確率となる表面欠陥の個数NiPcとの関係を、近似式或いはテーブルにより表しておき、その近似式或いはテーブルを用いて、表面欠陥の少ない製品を得るための適切な製造ライン速度を得たり、ある製造ライン速度とした場合に確率Pcで発生する製品の表面欠陥の最大個数を予測したりする。

請求項（抜粋）：

プロセス操業データと品質データとの間の相関について解析する製造プロセスにおける解析装置であって、プロセス操業データのとり得る値の範囲を複数の範囲に分割する分割手段と、前記各範囲ごとの品質データの確率分布を求める確率分布算出手段と、前記各範囲での所定の累積確率となる品質データ値を算出する品質データ値算出手段とを備えたことを特徴とする製造プロセスにおける解析装置。

IPC (2件)：

G06F 17/60 106 ,  G06F 19/00 100

FI (2件)：

G06F 17/60 106 ,  G06F 19/00 100