特許
J-GLOBAL ID：200903056474856896
リベット状部品の頭部側面検査方法およびその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
押田 良久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-048419
公開番号（公開出願番号）：特開平10-227745
出願日： 1997年02月17日
公開日（公表日）： 1998年08月25日
要約：
【要約】【課題】 回転させるなどの手間が無く、所望に応じ-度に複数個のリベット状部品の頭部側面の表面欠陥を検査が可能となり検査時間を大幅に縮めることができる検査方法および装置を提供する。【解決手段】 リベット状部品の頭部側面の表面欠陥を検査するに際して、前記部品を収める少なくとも1つの貫通穴または溝穴を設けた半透明のパレットに前記部品を入れ、該パレットの下方から光を当ててこの光が前記パレット中を通って前記部品の頭部側面を照らし、かつ前記部品の頭部側面で反射した光をパレットの上方に備えたカメラで撮像することを特徴をする。
請求項（抜粋）：
リベット状部品の頭部側面の表面欠陥を検査する方法であって、前記部品を収める少なくとも1つの貫通穴または溝穴を設けた半透明のパレットに前記部品を入れ、該パレットの下方から光を当ててこの光が前記パレット中を通って前記部品の頭部側面を照らし、かつ前記部品の頭部側面で反射した光をパレットの上方に備えたカメラで撮像することを特徴をするリベット状部品の頭部側面検査方法。
IPC (3件)：
G01N 21/88
, G01B 11/30
, G06T 1/00
G01N 21/88 Z
, G01B 11/30 Z
, G06F 15/62 380
