特許
J-GLOBAL ID:200903056478204290

距離測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 古谷 史旺
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-287864
公開番号(公開出願番号):特開平6-138231
出願日: 1992年10月26日
公開日(公表日): 1994年05月20日
要約:
【要約】【目的】 強度変調された照射レーザ光とその反射レーザ光との位相差を用いて物体までの距離を測定する距離測定装置に関し、反射レーザ光の強度がリミッタ増幅回路の応答性に与える影響を除去して高精度で距離を測定することを目的とする。【構成】 強度変調されたレーザ光を空間へ照射し、物体で反射したレーザ光を受光する光学手段と、照射レーザ光と反射レーザ光の位相差を検出し、その位相差情報を物体までの距離情報として出力する位相検出手段とを備えた距離測定装置において、位相検出手段は、反射レーザ光の強度を測定する強度検出手段と、その検出強度に応じて位相差情報を補正する補正手段とを含む構成である。
請求項(抜粋):
強度変調されたレーザ光を空間へ照射し、物体で反射したレーザ光を受光する光学手段と、照射レーザ光と反射レーザ光の位相差を検出し、その位相差情報を前記物体までの距離情報として出力する位相検出手段とを備えた距離測定装置において、前記位相検出手段は、前記反射レーザ光の強度を測定する強度検出手段と、その検出強度に応じて前記位相差情報を補正する補正手段とを含むことを特徴とする距離測定装置。
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭63-071675
  • 特開昭63-266382

前のページに戻る