特許

J-GLOBAL ID：200903056481172285

セントロI/F試験装置

発明者： 浅沼 利通
出願人/特許権者： 株式会社ピーエフユー
代理人 (1件)： 岡田 守弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-171479
公開番号（公開出願番号）：特開平5-020110
出願日： 1991年07月12日
公開日（公表日）： 1993年01月29日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、セントロI/Fの試験を行うセントロI/F試験装置に関し、パソコンなどの試験対象のセントロI/Fに擬似I/Oを接続して折り返し試験を行い、簡単な構成でセントロI/F試験を行うことを目的とする。【構成】 試験プログラム2を格納した被試験装置1と、この被試験装置1のセントロI/Fに接続し、受信した試験用のデータ、信号をもとに対応する信号を送出する擬似I/O3とを備え、被試験装置1の試験プログラム2が試験用のデータ、信号をセントロI/Fに送信し、擬似I/O3が受信したデータ、信号に対応する信号を送出し、セントロI/Fの試験を行うように構成する。

請求項（抜粋）：

セントロI/Fの試験を行うセントロI/F試験装置において、試験プログラム(2)を格納した被試験装置(1)と、この被試験装置(1)のセントロI/Fに接続し、受信した試験用のデータ、信号をもとに対応する信号を送出する擬似I/O(3)とを備え、被試験装置(1)の試験プログラム(2)が試験用のデータ、信号をセントロI/Fに送信し、擬似I/O(3)が受信したデータ、信号に対応する信号を送出し、セントロI/Fの試験を行うように構成したことを特徴とするセントロI/F試験装置。

IPC (3件)：

G06F 11/22 310 ,  G06F 13/00 301 ,  H04L 29/10

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-195560
  
• 特開昭62-066356
  
• 特開昭62-187953