特許

J-GLOBAL ID：200903056487148203

高分子粉体の接触電位差の測定法

発明者： 板倉 隆行 ,  手嶋 孝 ,  山田 茂樹 ,  増田 弘昭
出願人/特許権者： 三田工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 郁男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-036915
公開番号（公開出願番号）：特開平7-244015
出願日： 1994年03月08日
公開日（公表日）： 1995年09月19日
要約：

【要約】【目的】 高分子粉体の接触電位差の測定を短時間の内に能率的に測定でき、更に高分子粉体の接触電位差の測定に外乱を与えることなしに、高分子粉体層の電位を速やかにゼロに飽和させることができ、これにより真の接触電位差の測定が短時間の内に可能となる測定方法を提供する。【構成】 高分子粉体を該高分子のガラス転移点近傍の温度で熱処理して除電し、除電後該粉体を、冷却し或いは冷却することなく、振動電極間に位置させて、高分子粉体の接触電位差を測定する。

請求項（抜粋）：

高分子粉体を該高分子のガラス転移点近傍の温度で熱処理して除電し、除電後該粉体を、冷却し或いは冷却することなく、振動電極間に位置させて、高分子粉体の接触電位差を測定することを特徴とする高分子粉体の接触電位差の測定方法。

IPC (5件)：

G01N 27/60 ,  C08L101/00 LTB ,  G03G 9/08 ,  G03G 9/107 ,  C09D 5/03 PMZ

FI (2件)：

G03G 9/08 ,  G03G 9/10 331