特許
J-GLOBAL ID：200903056554193880
検査系列生成装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-228250
公開番号（公開出願番号）：特開平6-075018
出願日： 1992年08月27日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：
【要約】【目的】 順序回路の検査系列生成に関し、非同期回路にも対応し、検査系列を同時に複数扱い一検査系列にとらわれない探索を可能とし、かつ必要最小長の検査系列を生成し、計算時に必要とするメモリ容量を削減する。【構成】 順序回路1の内部信号線が検査系列によって0と1に論理状態が変化した数を評価値として定義する。様々な配列内容の検査系列について論理シミュレータ2が示す状態から評価値計算部3が評価値を計算し、これら相対的な値を基に外部入力設定部4が評価値を最大化する次世代の検査系列候補集団を探索する。これを繰り返すことにより、最適な系列長かつ最適な外部入力信号からなる検査系列を生成する。【効果】 検出率の上限や必要最小限の検査系列長が未知な順序回路についても検査系列の生成が可能である。
請求項（抜粋）：
論理和や論理積などのデジタル論理素子からなる順序回路またはその動作をシミュレートするプログラムを用いて、ある時刻の内部状態と外部入力とから、次時刻の状態を計算する論理シミュレータと、検査系列が前記順序回路内の各回路素子の論理状態を1と0とに設定できた数をその検査系列の評価値と定義し、それを前記論理シミュレータからの情報を用いて計算する評価値計算部と、任意の時刻数からなる複数個の検査系列候補と、これら検査系列候補で前記論理シミュレータを駆動して前記評価値計算部から得られるそれぞれの評価値とから、評価値を最大化するような複数個の外部入力候補を新たに生成し、前記評価値計算部における評価を繰り返す外部入力設定部とを備えたことを特徴とする検査系列生成装置。
IPC (3件)：
G01R 31/28
, G06F 11/22 320
, G06F 15/60 360
